Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos

El microscopio electrónico de barrido (SEM) por su capacidad para proporcionar información morfológica, topográfica, química, cristalográfica, eléctrica y magnética de muestras másicas, ha contribuido considerablemente al dominio de la Física del estado sólido, de la ciencia de materiales, de la electrónica, de los polímeros, de los textiles, de la Biología, Medicina y cirugía dental, etc.

© 2024 UNAM, Facultad de Química (E-bog): 9786073080866

Release date

E-bog: 22. maj 2024